讲座题目：精密光学元件检测技术

主 讲 人：于瀛洁 教授

讲座时间：2024年7月18日（周四）下午13:20-14:20时

讲座地点：钱伟长楼201会议室

欢迎有兴趣的师生前来聆听！

理学院

2024年7月17日

讲座内容简介：

光学检测技术和检测仪器具有非接触、非损伤、高精度和便于使用等优点，在科学研究和工业生产中的应用非常广泛。精密光学检测的技术水平、精密光学设备的自主生产能力，可直接反应一个国家的精密制造水平。本次讲座会介绍精密光学行业中的光学技术、电子技术等诸多当代先进科技，并展望该行业在未来的发展方向与应用前景。

主讲人简介：

于瀛洁，上海大学教授、博士生导师。现任上海大学机自学院院长、中国仪器仪表学会精密机械分会常务副主任委员兼总干事、中国计量测试学会计量仪器专业委员会常务委员等。主要从事光学检测和计算成像等方向研究，在超精密光学元件检测方面具有长期积累，承担了国家自然科学基金面上项目、国家重大科技专项课题、国家重点研发计划课题等研究工作。